单选题
在为芯片镀膜的生产过程中,膜厚是关键尺寸。为了监控镀膜的厚度,每间隔1小时在生产线上终端抽取1片芯片,每片测量3行3列共9个固定位置处的厚度并作为一个子组数据,希望建立相应有效的控制图,最佳的选择是:
A
X-R控制图
B
X-S控制图
C
单值移动极差控制图
D
C图或U图
答案解析
正确答案:B
解析:
连续 子组 大于6 用xs合适
相关知识点:
镀膜厚测选何图,X-S要记牢
题目纠错
六西格玛黑带考试第二次修改
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