纵波直射法探测平板形试件时，如果仪器工作条件和耦合状态良好，试件材质衰减很小，但探伤图形中既无缺陷波，又无底波，这是由于试件中存在( )。

纵波直射法探测平板形试件时，如果仪器工作条件和耦合状态良好，试件材质衰减很小，但探伤图形中既无缺陷波，又无底波，这是由于试件中存在( )。 答案: C. 与探测面倾斜的大缺陷 解析: 纵波直射法是一种探测平板形试件内部缺陷的方法。当试件材质衰减很小、仪器工作良好、耦合状态正常的情况下，如果在探伤图形中既没有缺陷波也没有底波，这说明试件中存在一个与探测面倾斜的大缺陷。这种情况下，缺陷波被斜面上的大缺陷所吸收，导致在图形中无法观测到明显的波动。