单选题
在半导体芯片生产中,要将直径 8 英寸 (约合 20 厘米) 的晶圆盘 (wafer) 切削成 3000 粒小芯片 (die)。目前由于工艺水平的限制,小芯片仍有约百分之一至二的不良率。在试生产了一段时间,生产初步达到了稳定。为了检测小芯片的不良率,在两个月内每天固定抽检 5 个晶圆盘,测出不良小芯片总数,要根据这些数据建立控制图,这时应选用下列何种控制图?
A
NP 图和 P 图都可以,两者效果一样
B
NP 图和 P 图都可以,NP 图效果更好
C
NP 图和 P 图都可以,P 图效果更好
D
以上都不对
答案解析
正确答案:A
解析:
NP 图用于控制不合格品数,P 图用于控制不合格品率,本题中已知每天抽检的晶圆盘数量固定(n = 5),既可以用 NP 图(监控不合格小芯片总数),也可以用 P 图(监控不良率),两者效果一样。
相关知识点:
抽检不良率,NP图和P图均可
题目纠错
六西格玛黑带考试第二次修改
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