射线底片上影像所代表的缺陷性质的识别通常可以从( 　　)黑度分布和位置进行综合分析。

这道题目考察的是对射线底片（如X射线或γ射线底片）上影像所代表的缺陷性质进行识别的基本方法。我们来逐一分析各个选项：

A. 缺陷影像的几何形状：射线底片上的缺陷影像，其几何形状往往能够直接反映缺陷本身的性质。例如，裂纹通常呈现为细长的线条状，气孔则可能呈现为圆形或椭圆形等。通过观察和分析这些几何形状，可以初步判断缺陷的类型和性质。因此，这个选项是识别缺陷性质的关键。

B. 缺陷影像的厚度：在射线底片上，缺陷的“厚度”并不是一个直接可观察或测量的参数。底片上的影像主要反映的是射线穿透物体时因材料密度、厚度或缺陷存在而产生的吸收差异，而非缺陷本身的物理厚度。因此，这个选项不适用于直接识别缺陷性质。

C. 缺陷影像的大小：虽然缺陷影像的大小可以提供一些关于缺陷规模的信息，但它并不能直接反映缺陷的性质。例如，同样大小的影像可能代表不同类型的缺陷（如裂纹和气孔）。因此，这个选项不是识别缺陷性质的主要依据。

D. 缺陷影像的长度：与缺陷影像的大小类似，长度也只能提供关于缺陷规模的部分信息，而不能直接揭示缺陷的性质。不同类型的缺陷可能具有相似的长度特征。

综上所述，识别射线底片上影像所代表的缺陷性质，通常需要从缺陷影像的几何形状和位置进行综合分析。这是因为几何形状能够直接反映缺陷的类型和特征，而位置信息则有助于进一步理解缺陷在物体中的分布和可能的影响。因此，正确答案是A：缺陷影像的几何形状。