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多选题
1、针对有Wafer Map 的产品做wafer 识别时需要需要打开哪些识别功能。( )
A
Check Die
B
Target Die
C
Ink Mark die
D
Edge die
答案解析
正确答案：AB
解析：
针对有Wafer Map 的产品做wafer 识别时需要需要打开哪些识别功能。( ) 答案:AB
题目解析：这个问题问的是在针对具有Wafer Map的产品进行wafer识别时需要打开哪些识别功能。正确答案是AB，因为问题中提到了Wafer Map，所以需要打开"Check Die"（检查晶圆）和"Target Die"（目标晶圆）这两种识别功能，以确保正确识别产品的位置和特征。"Ink Mark die"（油墨标记晶圆）和"Edge die"（边缘晶圆）不在问题中提到，所以不是正确答案。
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