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单选题
183.THDS(哈科所)探测站,红外轴温探测系统元件温度不稳定或有跳变,容易造成探头碲镉汞器件的()变化。
单选题
182.THDS(哈科所)探测站,红外轴温探测系统单侧元件温度接近环温时,可能是()造成的。
单选题
181.THDS(哈科所)探测站,红外轴温探测系统元温高低变化不稳定,影响热靶曲线,会造成()测温误差大。
单选题
180.如车号主机与车号天线之间的同轴电缆故障可能会造成的现象是()。
单选题
179.THDS(哈科所)探测站,红外轴温探测系统如果报元件温度故障,可能是()。
单选题
178.如车辆信息采集计算机故障可能会造成的现象是()。
单选题
177.如一台图像采集计算机故障可能会造成的现象是()。
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176.以下对TEDS设备磁钢参数描述不正确的是()
单选题
175.红外轴温探测系统制冷电流不稳定,红外线动态检测测温成绩不能保证()。
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174.红外轴温探测系统制冷电流不稳定容易造成探头测温()。
