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集成电路工艺问答题
29
填空题

26. 在离子注入掺杂时,有少部分杂质进入衬底后穿过较大距离,这种现象就是( )。当偏离晶向( )ψc注入时,可以避免。

答案解析

正确答案:沟道效应,大于
集成电路工艺问答题

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