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根据《磁性基体上非磁性覆盖层覆盖层厚度测量磁性法》GB/T4956,测量磁性基体金属上非磁性覆盖层厚度,如果试样基体金属的厚度和仪器的基体金属临界厚度满足什么关系时,测量将不受基体金属厚度增加的影响()。
根据《磁性基体上非磁性覆盖层覆盖层厚度测量磁性法》GB/T4956,测量磁性基体金属上非磁性覆盖层厚度,仪器校准时,如果试样基体金属的厚度没有超过仪器的基体金属临界厚度,则试样和校准标准片二者的基体金属厚度的关系应满足()。
根据《磁性基体上非磁性覆盖层覆盖层厚度测量磁性法》GB/T4956,测量磁性基体金属上非磁性覆盖层厚度,受基体金属机械加工方向和剩磁的影响,仪器校准时,须将测头再旋转()来核对仪器的校准。
根据《磁性基体上非磁性覆盖层覆盖层厚度测量磁性法》GB/T4956,测量磁性基体金属上非磁性覆盖层厚度时,如果在粗糙表面上的同一参比面内测得的一系列数值的变动范围明显超过仪器固有的重现性,所需的测量次数至少应增加到()次。
根据《热喷涂涂层厚度的无损测量方法》GB/T11374,无专门规定时,热喷涂涂层的厚度应报告主要表面上测得的()。
根据《热喷涂涂层厚度的无损测量方法》GB/T11374,对于不同用途的涂层,可根据用户要求报告的内容不含下列哪项()。
根据《热喷涂涂层厚度的无损测量方法》GB/T11374,对于主要表面≥1m2的试件,在选择的参比面内,局部厚度测量的次数为()次。
根据《热喷涂涂层厚度的无损测量方法》GB/T11374,对于主要表面≥1m2的试件,在选择的参比面内,局部厚度测量的点数为()点。
根据《热喷涂涂层厚度的无损测量方法》GB/T11374,对于1cm2≤主要表面<1m2的试件,在选择的参比面内,局部厚度测量的点数为()点。
根据《热喷涂涂层厚度的无损测量方法》GB/T11374,对于主要表面<1cm2的试件,局部厚度测量的点数为()点。
