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单选题
根据《磁性基体上非磁性覆盖层覆盖层厚度测量磁性法》GB/T4956，测量磁性基体金属上非磁性覆盖层厚度，仪器校准时，如果试样基体金属的厚度没有超过仪器的基体金属临界厚度，则试样和校准标准片二者的基体金属厚度的关系应满足（）。
A
A、前者大于后者
B
B、前者小于后者
C
C、前者和后者的厚度没有关系
D
D、前者等于后者
答案解析
正确答案：D
解析：
根据国家标准《磁性基体上非磁性覆盖层厚度测量 磁性法》（GB/T 4956）的相关规定，磁性测厚仪的测量原理基于磁通量或磁阻的变化，而这些变化不仅受覆盖层厚度影响，还受基体金属厚度的影响。
当基体金属厚度较薄，未达到仪器的“基体金属临界厚度”时，基体厚度的变化会显著影响测量结果。为了消除基体厚度对测量准确度的干扰，确保校准的有效性，标准规定在进行仪器校准时，如果试样基体金属厚度未超过临界厚度，那么**校准用标准片的基体金属厚度必须与试样的基体金属厚度相同**。
如果二者厚度不一致，由于磁路特性的差异，会导致校准曲线偏离实际工况，从而产生测量误差。只有当基体厚度足够大（超过临界厚度）时，基体厚度的进一步增加才不再影响测量结果，此时对基体厚度的匹配要求才会放宽。但在本题设定的“未超过临界厚度”条件下，必须严格保持两者厚度一致。
因此，试样和校准标准片二者的基体金属厚度应相等。
故正确答案为：**D**
题目纠错
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