CSK-Ⅰ试块能用于()

**解析：** CSK-Ⅰ试块（即JB/T 4730标准中的RB系列或类似的标准试块，通常指含有R50、R100圆弧面以及不同深度横孔的试块）是超声波检测中常用的标准试块。我们可以逐一分析各个选项： 1. **A、测定斜探头入射点**： * **正确**。CSK-Ⅰ试块上通常设有R50和R100的圆弧面。利用R100（或R50）圆弧面的反射回波，通过前后移动探头找到最高回波位置，此时探头前端对应的位置即为入射点。这是CSK-Ⅰ试块的基本功能之一。 2. **B、制作斜探头DAC曲线**： * **错误**（在本题语境下）。虽然理论上可以利用试块上的反射体制作距离-波幅曲线（DAC），但标准的CSK-Ⅰ试块主要设计用于校准声程、入射点、K值和灵敏度基准。制作完整的DAC曲线通常需要使用包含一系列不同深度、相同孔径横孔的试块（如CSK-ⅡA、CSK-ⅢA或专用对比试块），或者使用RB系列试块中的特定部分。在传统的考试分类中，CSK-Ⅰ主要用于基础参数校准，而专门用于制作DAC曲线的通常是其他类型的试块（如含有$\phi 1 \times 6$长横孔或不同深度短横孔的试块）。*注：部分新标准或实际应用中可能混用，但在经典考题中，CSK-Ⅰ不首选用于制作完整DAC曲线，或者说其主要特征功能不包含此项。* 3. **C、测定K值**： * **正确**。CSK-Ⅰ试块上通常有$\phi 50$孔或特定的横孔/竖孔结构。通过测定斜探头对已知位置反射体（如$\phi 50$孔或特定深度的横孔）的回波位置，结合几何关系，可以计算或直接读出探头的折射角正切值（即K值）。 4. **D、测定斜探头分辨率**： * **正确**。CSK-Ⅰ试块上通常设有两个相距很近的反射体（例如85mm和91mm处的台阶或特定孔），用于测试探头的分辨力。通过观察这两个反射体的回波是否能清晰分开，来测定斜探头的分辨率。 **综上所述：** CSK-Ⅰ试块的主要用途包括测定斜探头的入射点、K值（折射角）以及分辨率等性能指标。因此，选项 A、C、D 是正确的。 **正确答案：ACD**