17.纵波直射法探测平板形试件时,如果仪器工作条件和耦合状态良好,试件材质衰但探伤图形中既无缺陷波,又无底波,这可能是由于试件中存在:( )

1、( )11.仪器的水平线性会影响对缺陷的定量。

1、( )10.斜探头的K值,在探测任何材料时,其值可能不同。

1、( )9.调整时基线时,应使显示范围包含所需检测的深度范围。

1、( )8.声速是介质中质点振动的速度。

1、( )7.轮廓回波和迟到回波,均为非缺陷回波,不会对检测产生影响。

1、( )6.频率相同时,声源直径越大,近场长度越小。

1、( )5.垂直线性良好时,超声检测仪上脉冲的高度与接受到的声压成正比。

4.超声波在同一介质中传播碰到障碍物时,散射和衍射的强弱,与D/入有关。

1、( )3.缺陷自身特性是影响检测结果的可控因素。

1、( )2.压电效应是探伤中产生声电转换的最常用方法。