7.37方形锻件垂直法检测时,荧光屏上出现一个随探头移动而游动的缺陷回波,其波幅较低但底波降低很大,该缺陷的取向可能是( ):

3.82在确定缺陷当量时,通常在获得缺陷的最高回波时加以测定,这是因为只有当声束沿中心轴线投射到缺陷中心才能得到反射回波最大值。( )

3.81平行于探测面且垂直于声束的横通孔与入射声束角度无关。( )

3.80应用有人工反射体的参考试块主要目的是为探测时校准基准,并为评价工件中缺陷严重程度提供依据。( )

3.79在平整光洁表面上用直探头探伤宜使用硬保护膜探头,虽然耦合损耗大,但有利于减小工件中噪声。( )

3.78超声检验中,当探伤表粗糙度较高的工件时,宜选用较硬保护膜探头。( )

3.77超声探伤试块材质的唯一要求是材料中没有超过Φ2mm平底孔当量的缺陷。( )

3.76用以标定或测试超声探伤系统含有模拟缺陷的人工反射体的金属块叫参考试块。( )

3.75超声探伤系统区别相邻两缺陷的能力称为检测灵敏度。( )

3.74接触式聚焦方式按聚焦方式不同可分为透镜式聚焦和曲面镜片式聚焦。( )

3.73双晶探头的优点:盲区小,杂波少且探测范围大。( )