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多选题
1、针对有Wafer Map 的产品做wafer 识别时需要需要打开哪些识别功能。( )
A
Check Die
B
Target Die
C
Ink Mark die
D
Edge die
答案解析
正确答案：AB
解析：
题目解析
这道题问针对带有Wafer Map的产品进行wafer识别时需要打开哪些识别功能，正确答案是AB。解析如下：
A. Check Die 是一个识别功能，用于检查芯片上的每个晶元（die）。
B. Target Die 也是一个识别功能，用于标记或选择特定的晶元。
C. Ink Mark die 和 Edge die 不是wafer识别的功能，因此不包括在正确答案中。
D. Edge die 也不是wafer识别的功能，因此不包括在正确答案中。
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