1、P上 180 页 15 发现查控对象时,处理方法错误的是( )

1、P上 184 页 66、下列属于影响金属探测门周围环境的因素是( )

1、P上 184 页 66、下列属于影响金属探测门周围环境的因素是( )。

1、P上 184 页 70、下列不属于影响金属探测门周围环境的因素是( )。

1、P上 184 页 67、影响探测器的因素中,探测物的因素是指探测物的( )以及探测场的方向。

1、P上 184 页 68、影响金属探测门的因素有( )。

1、P上 184 页 68、影响金属探测门探测物的因素是( )

1、P上 184 页 67、不属于影响金属探测门探测物的因素是( )

1、P上 184 页 74、金属探测门对( )无害。

1、P上 184 页 66、脉冲式金属探测门是通过( )处理方式而获得很高的分辨率。

1、P上 184 页 65、金属探测门是通过感应寄生电流及均化磁场的数字信号处理方式而获得很高的分辨率,但是发射磁场厚度很低,对( )和其它电子装置无害。