用单探头法探测二个表面平整、但与入射声束取向不良的缺陷（二缺陷的取向相同且无工件界面的影响），它们的当量（ ）。

探头晶片尺寸 ，半扩散角减少，波束指向性变好，超声波能量集中，对探伤有利。

聚焦探头用于水浸探测管材和 。

表面波探头用于探测工件 。

斜探头是通过 来实现横波探伤的。

直探头只能发射和接受纵波，波束轴线垂直于探测面．主要用于探测与探测面 的缺陷。

探头型式有直探头、 、表面波探头、双晶探头等。

接触法探伤当耦合层的厚度为λ/4的奇数倍时，透声效果 。

为有效地发现近表面缺陷和区分相邻缺陷，探伤仪应盲区小 。

探伤仪的显示电路由 和偏转系统组成。

在探伤仪中使用AD603可以用于 中。