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单选题
190.如720卡故障可能会造成的现象是()。
单选题
189.THDS(哈科所)探测站,红外轴温探测系统光子探头元件温度超过正常值范围,有可能造成探头测温()。
单选题
188.在THDS-A设备(哈科所)探测站)中出现如果环温低于()度时,提示环温故障。
单选题
187.THDS(哈科所)探测站,红外轴温探测系统内探探头在晴朗天空下,天空值出现高值,有可能是()所致。
单选题
186.在THDS-A设备(哈科所)探测站中出现板温-50度或+150度,与()无关。
单选题
185.THDS(哈科所)探测站,红外轴温探测系统元件温度不稳定或有跳变,容易造成探头碲镉汞器件的灵敏率()。
单选题
184.THDS(哈科所)探测站,红外轴温探测系统元件温度与正常值偏离较大,就会造成探头测温()。
单选题
183.THDS(哈科所)探测站,红外轴温探测系统元件温度不稳定或有跳变,容易造成探头碲镉汞器件的()变化。
单选题
182.THDS(哈科所)探测站,红外轴温探测系统单侧元件温度接近环温时,可能是()造成的。
单选题
181.THDS(哈科所)探测站,红外轴温探测系统元温高低变化不稳定,影响热靶曲线,会造成()测温误差大。
