型是试片的名称是15/50,它代表（ ）。

迟到波的产生是由于仪器重复颇率太高引起的。

在超声探头辐射声场的3N以外的远场中，声压与晶片的面积成正比。

耦合合剂的声阻抗比空气的声阻抗小，所以透过率高。

超声波探头发出的声波频率主要由探伤仪的发射电压决定。

探伤仪的分辨力与频带宽度有关。

常用的有机玻璃斜楔探头，当温度升高时，其K值将增大。

超声检测中，对缺陷尺寸估计偏小的可能性很大。

只有当工件中缺陷在各个方面的尺寸均大于声束截面时，才能采用测长法确定缺陷长度。

当量尺寸小的缺陷实际尺寸不一定小，当量尺寸大的缺陷其实际面积却一定很大。

超声波B型显示能够显示缺陷在平面视图上的分布。