答案：答:已知基准声程Xa=220mm;基准当量da=4mm; 缺陷声程Xf=180mm;缺陷波比基准波高ΔN=12dB,求缺陷当量df根据公式:df=da·(Xf/Xa)×10ΔN/40则:df=4×180/220×1012/40=6.5mm缺陷的当量平底孔直径为6.5mm
解析：
答案：答:已知基准声程Xa=220mm;基准当量da=4mm; 缺陷声程Xf=180mm;缺陷波比基准波高ΔN=12dB,求缺陷当量df根据公式:df=da·(Xf/Xa)×10ΔN/40则:df=4×180/220×1012/40=6.5mm缺陷的当量平底孔直径为6.5mm
解析：
A. 折射率
B. 超声波的频率
C. 杨氏模量
D. 声阻抗
解析：声阻抗是决定声波在不同材料界面上反射量的重要因素，不同材料的声阻抗不同会导致反射量的差异。
A. 探伤仪类型
B. 晶片背衬的致密性
C. 频率和晶体尺寸
D. 脉冲长度
解析：晶片发射波束的扩散程度主要取决于频率和晶体尺寸。
解析：
A. 正确
B. 错误
解析：回波比是指信号的强度与背景噪声的比值，单位为db。当回波比为5时，代表信号强度是背景噪声的5倍，相差14db表示信号强度比背景噪声强14db。
解析：
A. 正确
B. 错误
解析：脉冲反射法是一种通过接收回波情况来判断缺陷、材质的方法。
A. 称为当量
B. 与实际大小相等
C. 是缺陷的最大长度
D. 上述都不是
解析：试块对比法是一种常用的无损检测方法，用于确定缺陷的大小。当量是指通过试块对比法求得的缺陷大小。
A. 角度调节
B. 校正
C. 衰减调节
D. 对比
解析：通过对比或标准试块调整探伤装置或仪器的过程称为校正。
解析：
A. 正确
B. 错误
解析：超声波的频率通常高于20kHz，用于工业探伤。
