超声场远场区中的声压以边缘波线上为最高。( )
解析：超声场远场区中的声压并不一定以边缘波线上为最高，实际上声压会随着距离的增加而逐渐减小。
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产生超声波的基本条件是什么?
解析：
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在直接接触法探伤时,若仪器的重复频率调得过高,将会产生( )。
A. 扫描线变暗
B. 时基线变形
C. 始脉冲消失
D. 示波屏上出现幻想象
解析：仪器的重复频率调得过高会导致示波屏上出现幻像象，影响检测结果。
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指向角的大小只取决于晶片的大小。( )
解析：指向角的大小不仅取决于晶片的大小，还取决于晶片的形状和材质等因素。因此，仅仅依靠晶片的大小无法确定指向角的大小。
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探伤时加大探头压力,回波幅度增高,这是由于压力所产生的机械能部分转换为声能的结果。( )
解析：探伤时加大探头压力，回波幅度增高并不是由于压力转换为声能的结果，而是由于增大的压力使得探头更好地接触被测物体，增加了声波的传播效率。
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有缺陷存在,但不会在仪器示波屏上显示缺陷回波的探伤方法,称为( )。
A. 垂直法
B. 表面波法
C. 斜射法
D. 穿透法
解析：缺陷不显示的探伤方法是穿透法。
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粗糙的探测表面将导致探伤灵敏度降低。( )
解析：粗糙的探测表面会增加探测信号的散射，导致探伤灵敏度降低。
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校正好的探伤系统,其测距每格代表声程30mm,探头折射角为45°,伤波出现在3.5格上,试求缺陷位置?
解析：
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超声波的入射角( )。
A. 大于反射角
B. 小于反射角
C. 等于与入射波波型相同的反射波反射角
D. 与反射角无关
解析：超声波的入射角等于与入射波波型相同的反射波反射角，这是超声波在材料中传播时的基本原理。
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以相同的探测灵敏度探测位于粗晶铸件和经过调质锻件中的缺陷,如两者探测面状态一样,同处于深度200mm处的缺陷回波高度也一样,则两者的缺陷( )。
A. 当量相同
B. 铸件中的大
C. 锻件中的大
D. 都不对
解析：在相同的探测条件下，粗晶铸件和经过调质锻件中的缺陷，由于材质和结构不同，可能会导致回波高度相同但缺陷的当量不同，因此选择B。
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