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单选题
3.2.391运行的500kV瓷绝缘子串(片数≥29)在5次检测、检查中,其劣化片数累计达到( ),必须立即整串更换。[DL/T626-2015]
单选题
3.2.390运行时间达10年的复合绝缘子应按批进行一次抽检试验,并且在第一次抽检( ),应进行第二次抽样。[DL/T626-2015]
单选题
3.2.389玻璃绝缘子的检测一般可参照瓷绝缘子检测方法要求,除此以外还应跟踪统计玻璃绝缘子的( )。[DL/T626-2015]
单选题
3.2.388瓷绝缘子的机电破坏负荷试验应( )进行一次。[DL/T626-2015]
单选题
3.2.387瓷绝缘子在年化劣化率0.005%~0.01%时,对应的检测周期为( )。[DL/T626-2015]
单选题
3.2.386在进行干工频耐压试验时,对于额定机电破坏负荷为70kN~550kN的瓷绝缘子施加( )。[DL/T626-2015]
单选题
3.2.385瓷绝缘子在适当延长检测周期时,最长不能超过( )[DL/T626-2015]
单选题
3.2.384瓷绝缘子投运( )应普测一次,并根据所测劣化率和运行经验适当延长检测周期。[DL/T626-2015]
单选题
3.2.383正常运行时测量绝缘子串的电压分布,当被测绝缘子电压值低于( )标准规定值,判为劣化绝缘子。[DL/T626-2015]
单选题
3.2.382在进行绝缘子抽样进行干工频耐压试验时,当击穿率( )时,应加倍抽样进行试验。[DL/T626-2015]
