1.1.361减短CN和CX屏蔽线长度可减小QS1电桥测量误差。( )

3.2.421进行绝缘子老化和湿度试验时,一个试验循环的持续时间为( ),老化和湿度试验总的持续时间不得小于()。[DL/T729-2000]

3.2.420进行绝缘子老化和湿度试验时,试验用雾室要求密封,雾室的容积至少( )倍于试品体积,由加热器来控制调节雾室温度。[DL/T729-2000]

3.2.419进行绝缘子老化和湿度试验前,安装试品应保证试品置于底部距墙至少( ),离喷雾装置的距离至少(),且在试验期间应确保其绝缘表面没有水的聚集淀积物。[DL/T729-2000]

3.2.418进行绝缘子的老化和湿度试验时,在潮湿状态期间内,实验室中的相对湿度应( )。[DL/T729-2000]

3.2.417进行绝缘子吸水性试验时,试验期间试品不应出现击穿和闪络,温升不应超过( ),否则试验不合格。[DL/T729-2000]

3.2.416进行雷电冲击凝露耐受电压试验,如果闪络次数各不超过( )次,则试品通过本试验。[DL/T729-2000]

3.2.415将试品放置在温度为(-10±1)℃的一个容器内(10~20)h至试品完全冷却后,(1~4)min内将试品安装在温度和相对湿度分别为( )的实验室内,此时试品表面上就产生凝露。[DL/T729-2000]

3.2.414凝露试验的试验电源容量应满足在试验电压下短路电流有效值( )。[DL/T729-2000]

3.2.413凝露试验一般由( )和雷电冲击试验组成。[DL/T729-2000]

3.2.412在凝露及污秽试验时或试品上的电压显然不受外部影响,在保证对邻近物体不发生闪络的条件下,可取( )。[DL/T729-2000]