A、对
B、错
答案:B
A、对
B、错
答案:B
A. 对
B. 错
A. A.微机型装置宜每3年进行一次部分检验
B. B.微机型装置宜每6年进行一次全部检验
C. C.新安装测控装置投运后一年内的第一次全检
D. D.以上均正确
A. A.拓扑防误校核
B. B.设备状态校核
C. C.潮流校核
D. D.综合防误校核
A. A.减少事故事件
B. B.控制对人员的伤害
C. C.保障作业过程安全
D. D.关爱员工
A. A.从全网角度进行无功电压优化
B. B.实现无功补偿设备合理投入和无功分层就地平衡与稳定电压
C. C.实现主变分接开关调节次数最少和电压合格率最高
D. D.实现输电网损率最小
A. 1.厂站自动化设备故障修复、缺陷处理,或进行较大的更改(如更换插件、软件版本升级、二次回路改动等)后的检验;
B. 2.已投入运行的系统和设备停运一年及以上,再次投入运行时的检验。
A. A.用于配置二次设备描述名
B. B.用于配置厂站信息
C. C.用于配置地址
D. D.用于配置遥测、遥信、遥控
A. A.对称加密算法的密钥易于管理
B. B.加解密双方使用同样的密钥
C. C.DES算法属于对称加密算法
D. D.相对于非对称加密算法,加解密处理速度比较快
A. A:DROP VIEW
B. B:CREATE INDEX
C. C:ALTER VIEW
D. D:CREATE OR REPLACE VIEW
A. A.IPS和防火墙
B. B.VPN和IDS
C. C.HIDS和VPN
D. D.NIDS和IPS