A、一次设备对试验结果的影响
B、由二次侧向一次侧反充电
C、由一次侧向二次侧充电
答案:B
A、一次设备对试验结果的影响
B、由二次侧向一次侧反充电
C、由一次侧向二次侧充电
答案:B
A. 计入
B. 不计入
C. 相同变比数量最多的变比
D. 有时计入,有时不计入
A. 在零序电压中,故障点的最高
B. 故障点的负序电压小于故障点的零序电压
C. 故障点的零序电压小于故障点的正序电压
A. 增大
B. 减小
C. 维持
A. 正确
B. 错误
A. 变比相等
B. 短路电压相等
C. 绕组接线组别相同
D. 中性点绝缘水平相当
A. 分布电容
B. 集中电感
C. 集中电阻
D. 集中电容
A. 正确
B. 错误
A. 不低于2500V、2min的试验标准
B. 不低于1000V、1min的试验标准
C. 不低于2500V、Imin的试验标准
D. 不低于500V、Imin的试验标准
A. Rg越大,3U0与3I0间的夹角越小
B. 3U0与3I0间的夹角与Rg无关
C. 接地点越靠近保护安装处,3U0与3I0间的夹角越小
D. 接地点越远离保护安装处,3U0与3I0间的夹角越小
A. 时间
B. 地点
C. 职务
D. 现场情况