122、GB/T5023.3-2008规定,一般用途单芯软导体无护套电缆的导体应符合GB/T3956-1997中( )导体规定的要求。

177、依据JG/T 3050-1998,进行套管弯曲性能测定时,在选取波纹套管试样长度时,其长度应为其外径的( )倍。

176、依据JG/T 3050-1998,进行套管弯曲性能测定时,在选取半硬质套管试样长度时,其长度应为其外径的( )倍。

175、JG/T 3050-1998规定,进行套管弯曲性能测定时,选取硬质套管试样六根,其中( )根试样放在常温下进行,( )根放在低温箱内。 ( )

174、依据JG/T 3050-1998,进行套管弯曲性能测定时,选取硬质套管试样的长度为( )mm。

173、依据JG/T 3050-1998,进行套管弯曲性能测定时,规定测定方法时,只对公称尺寸为16、( )、25的硬质套管进行弯曲试验。

172、依据JG/T 3050-1998,进行套管抗冲击性能测定时,按相应的表格选择规定的重锤及下落高度,冲击套管。对于中型套管而言,选择相应重锤的重量应为( )kg。

171、依据JG/T 3050-1998,进行套管抗冲击性能测定时,试验后12根套管中至少应有( )根不破裂或不出现可见裂纹。

170、依据JG/T 3050-1998,进行套管抗冲击性能测定时,试样及冲击试验仪在低温箱规定温度下放置( )h后,将试样按相应规定放置在装置的底座上。

169、依据JG/T 3050-1998,进行套管抗冲击性能测定时,将冲击试验仪及预处理后的试样一起置于低温箱中,对于-5型和90型套管而言,低温箱温度为( )℃。

168、依据JG/T 3050-1998,进行套管抗冲击性能测定时,应将试样置于烘箱内预处理( )h。