A、 D0≤0.2
B、 D0≤0.3
C、 D0≤0.4
D、 D0≤0.5
答案:B
A、 D0≤0.2
B、 D0≤0.3
C、 D0≤0.4
D、 D0≤0.5
答案:B
A. 0~20Hz
B. 20~20000 Hz
C. 大于20000Hz D . 以上都不对
A. 横波质点振动方向对缺陷反射有利
B. 横波探伤杂质少
C. 横波波长短
D. 横波指向性好
A. 降低染料的亮度和对比反差
B. 增加染料的亮度和对比反差
C. 从缺陷处吸出足量的渗透剂,以形成一种显示
D. 将显示的宽度扩大到用肉眼进行观察
A. 缺陷的尺寸
B. 缺陷的类型
C. 缺陷的形状和取向
D. 以上全部
A. 转角扫查
B. 环绕扫查
C. 左右扫查
D. 前后扫查
A. 连续法探伤的灵敏度低
B. 只可在外加磁场的作用下观察磁痕,不可在撤去外加磁场后观察磁痕
C. 探伤效率较低
D. 易出现干扰缺陷评定的杂乱显示
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A. 磁粉探伤是利用缺陷处漏磁场与磁粉相互作用而产生磁痕的原理
B. 磁粉探伤可以检测铁磁性材料表面及内部细节缺陷的一种无损探伤方法
C. 铁磁材料的构件被磁化后,其表面和近表面的缺陷处磁力线发生变形
D. 可以通过漏磁场吸引磁粉堆积显示缺陷现象来确定缺陷的位置
A. 它是探伤设备系统的一个组成部分
B. 它是探伤标准的一个组成部分
C. 它是判定探伤质量的重要尺度
D. 它可以分为标准试块和对比试块
A. 渗透剂的种类
B. 被检物形态
C. 预测的缺陷种类与大小
D. 被检物和渗透剂的温度
A. 取决于脉冲发生器,探头和接收器的组合性能
B. 随频率的提高而提高
C. 随分辨率的提高而提高
D. 与换能器的机械阻尼无关