A、 显像剂一般会发出很强的荧光
B、 显像剂在检验时提供一个与显示相反衬的背景
C、 去除多余渗透液后显像剂把保留在不连续性中的渗透液吸出来
D、 显像剂有干的也有湿的
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答案:BCD
A、 显像剂一般会发出很强的荧光
B、 显像剂在检验时提供一个与显示相反衬的背景
C、 去除多余渗透液后显像剂把保留在不连续性中的渗透液吸出来
D、 显像剂有干的也有湿的
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答案:BCD
A. 允许存在的单个缺陷显示磁痕长度≤0.3δ,且≤4mm
B. 允许存在的单个缺陷显示磁痕长度≤0.5δ,且≤20mm
C. 相邻两缺陷显示磁痕的间距应不小于其中圈套缺陷显示磁痕长度的6倍
D. 相邻两缺陷显示磁痕的间距应不小于其中圈套缺陷显示磁痕长度的10倍
A. 单个条状夹渣长宽比
B. 单个条状夹渣长度
C. 相邻两条夹渣间距
D. 条状夹渣总长
A. 串列扫查
B. 交叉扫查
C. V形扫查
D. K形扫查
A. 纵波直探头
B. 表面直探头
C. 横拨直探头
D. 聚焦探头
A. 源尺寸
B. 胶片感光度
C. 胶片粒度
D. 射线能量
E.
F.
G.
H.
I.
J.
解析:该题考察的是固有不清晰度与何种因素相关的知识。以下是本题的解析:
固有不清晰度是指由于成像系统内部结构等因素所产生的模糊现象,在照相、摄像及光学测量等领域都有应用。固有不清晰度与多种因素有关,包括源尺寸、胶片感光度、胶片粒度、射线能量等。其中,源尺寸越小、胶片感光度越低且胶片粒度越小,固有不清晰度越小;射线能量越高,固有不清晰度越大。因为射线能量与其他三个选项没有直接关系,所以本题的答案选项为D。
需要注意的是,固有不清晰度是成像系统内部因素的综合表现,各因素之间的影响是复杂的,需要结合实际问题进行分析和判断。同时,在鲁棒设计和优化成像系统方面,对固有不清晰度的控制和降低也是一个重要课题。
A. 渗透液是溶液
B. 溶剂清洗剂是悬浮液
C. 显像剂是悬浮液
D. 显像剂是乳状液
A. 0~0.5MHz
B. 0.5~ 10MHz
C. 10~40MHz
D. 40MHz以上
A. RT
B. PT
C. MT
D. UT
A. 作为探测时的校准基准,并为评价工件中缺陷严重程度提供依据
B. 为探伤人员提供一种确定缺陷实际尺寸的工具
C. 为检出小于某一规定的参考反射体的所有缺陷提供保证
D. 提供一个能精确模拟某一临界尺寸自然缺陷的参考反射体
A. 波阵面的几何形状
B. 材料的晶粒度
C. 材料的粘滞性
D. 以上都是