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单选题
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30. 在频率一定和材料相同情况下,横波对小缺陷探测灵敏度高于纵波的原因是( )

A、  横波质点振动方向对缺陷反射有利

B、  横波探伤杂波少

C、  横波指向性好

D、  横波的波长短

答案:D

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40. 用干式或快干式显像剂显像前,水清洗的被检表面应作温度不超过多少度的干燥处理( )
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22. 检测钢材表面缺陷最贱的方法是( )
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29. 对工厂制作全焊透二级焊缝采用超声波进行内部缺陷检验时,( )
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24.被磁化的工件表面有一裂纹,使裂纹吸引磁粉的原因是:( )
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13. 一般来说,液体渗透探伤中使用的清洗剂具有( )
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37.渗透探伤的步骤依次是( )
https://www.shititong.cn/cha-kan/shiti/0005e355-7131-29f0-c045-e675ef3ad602.html
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4.超声波传播过程中,遇到尺寸与波长相当的障碍物时,将发生( )
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10.单探头探伤时,在近区有幅度波动较快、探头移动时水平位置不变的回波,它们可能是:( )
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16. 以下属于双晶探头的性能指标是( )
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17. 下列关于显像剂干燥的说法正确的有( )
https://www.shititong.cn/cha-kan/shiti/0005e355-7a3d-6ec8-c045-e675ef3ad603.html
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题目内容
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单选题
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30. 在频率一定和材料相同情况下,横波对小缺陷探测灵敏度高于纵波的原因是( )

A、  横波质点振动方向对缺陷反射有利

B、  横波探伤杂波少

C、  横波指向性好

D、  横波的波长短

答案:D

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相关题目
40. 用干式或快干式显像剂显像前,水清洗的被检表面应作温度不超过多少度的干燥处理( )

A.   20℃

B.   37℃

C.   52℃

D.   80℃

https://www.shititong.cn/cha-kan/shiti/0005e355-7889-42a0-c045-e675ef3ad600.html
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22. 检测钢材表面缺陷最贱的方法是( )

A.   静电法

B.   超声法

C.   磁粉法

D.   射线法

https://www.shititong.cn/cha-kan/shiti/0005e355-7889-3300-c045-e675ef3ad601.html
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29. 对工厂制作全焊透二级焊缝采用超声波进行内部缺陷检验时,( )

A.   应按每条焊缝计算百分比,且探伤长度应不小于100mm,当焊缝长度不足100mm时,应对整条焊缝进行探伤

B.   应按每条焊缝计算百分比,且探伤长度应不小于200mm,当焊缝长度不足200mm时,应对整条焊缝进行探伤

C.   应按同一类型、同一施焊条件的焊缝条数计算百分比,且探伤长度应不小于100mm,当焊缝长度不足100mm时,应对整条焊缝进行探伤

D.   应按同一类型、同一施焊条件的焊缝条数计算百分比,且探伤长度应不小于200mm,当焊缝长度不足200mm时,应对整条焊缝进行探伤

https://www.shititong.cn/cha-kan/shiti/0005e355-7889-36e8-c045-e675ef3ad602.html
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24.被磁化的工件表面有一裂纹,使裂纹吸引磁粉的原因是:( )

A.  多普勒效应

B.  漏磁场

C.  矫顽力

D.  裂纹处的高应力

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13. 一般来说,液体渗透探伤中使用的清洗剂具有( )

A.   对工作无腐蚀,具有较高的挥发性

B.   对工作表面浸润作用强

C.   对渗透液具有一定的溶解度,但不能与其起化学反应

D.   以上均不正确

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37.渗透探伤的步骤依次是( )

A.   ①预处理→②清洗→③干燥→④渗透→⑤显像→⑥观察与后处理

B.   ①预处理→②渗透→③清洗→④干燥→⑤显像→⑥观察与后处理

C.   ①预处理→②清洗→③渗透→④显像→⑤干燥→⑥观察与后处理

D.   ①预处理→②渗透→③显像→④清洗→⑤干燥→⑥观察与后处理

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4.超声波传播过程中,遇到尺寸与波长相当的障碍物时,将发生( )

A.  只绕射,无反射

B.  既反射,又绕射

C.  只反射,无绕射

D.  以上都可能

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10.单探头探伤时,在近区有幅度波动较快、探头移动时水平位置不变的回波,它们可能是:( )

A.  来自工件表面的杂波

B.  来自探头的噪声

C.  工件上近表面缺陷的回波

D.  耦合剂噪声

https://www.shititong.cn/cha-kan/shiti/0005e355-7a3d-47b8-c045-e675ef3ad602.html
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16. 以下属于双晶探头的性能指标是( )

A.  工作频率

B.  晶片尺寸

C.  探测深度

D.  近场长度

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17. 下列关于显像剂干燥的说法正确的有( )

A.   用湿式显像剂显像时,可不经干燥处理

B.   用干式或快干式显像剂显像时,可不经干燥处理

C.   用湿式显像剂显像时,溶剂去除后的被检工件表面可上直接覆盖显像剂

D.   用干式或快干式显像剂显像前,溶剂去除后的被检工件表面可自然干燥或用布、纸擦干

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