A、 射线实时图像法探伤
B、 射线照相法探伤
C、 射线计算机断层扫描技术
D、 射线连续曝光法探伤
答案：B
A、 射线实时图像法探伤
B、 射线照相法探伤
C、 射线计算机断层扫描技术
D、 射线连续曝光法探伤
答案：B
A. 缺陷方向与磁力线平行时,漏磁场最大
B. 漏磁场的大小与工件的材质无关
C. 漏磁场的大小与缺陷的深度比有关
D. 工件表层下缺陷所产生的漏磁场,随缺陷的埋藏深度增加而增大
A. 可不考虑探伤耦合差补偿
B. 缺陷定量可采用计算法或A.V.G曲线法
C. 可不使用试块
D. 缺陷定量可不考虑材质衰减差修正
A. 检测结果有直接记录
B. 可以获得缺陷的真实图像
C. 面积型缺陷的检出率比体积型缺陷的检出率高
D. 适宜检验较薄的工件而不适宜较厚的工件
A. 源尺寸
B. 胶片感光度
C. 胶片粒度
D. 射线能量
E.
F.
G.
H.
I.
J.
解析：该题考察的是固有不清晰度与何种因素相关的知识。以下是本题的解析：
固有不清晰度是指由于成像系统内部结构等因素所产生的模糊现象，在照相、摄像及光学测量等领域都有应用。固有不清晰度与多种因素有关，包括源尺寸、胶片感光度、胶片粒度、射线能量等。其中，源尺寸越小、胶片感光度越低且胶片粒度越小，固有不清晰度越小；射线能量越高，固有不清晰度越大。因为射线能量与其他三个选项没有直接关系，所以本题的答案选项为D。
需要注意的是，固有不清晰度是成像系统内部因素的综合表现，各因素之间的影响是复杂的，需要结合实际问题进行分析和判断。同时，在鲁棒设计和优化成像系统方面，对固有不清晰度的控制和降低也是一个重要课题。
A. 转角扫查
B. 环绕扫查
C. 左右扫查
D. 前后扫查
A. 放大器
B. 接收器
C. 脉冲发生器
D. 同步器
A. 裂纹和固体夹杂
B. 孔穴
C. 未熔合和未焊透
D. 形状缺陷
A. 10~30g
B. 30~100g
C. 100~150g
D. 150~200g
A. 焊缝和热影响区的黑度均应在标准规定的黑度范围内
B. 测量最大黑度的测量点一般选在中心标记附近的热影响区
C. 测量最小黑度的测量点一般选在搭接标记附近的焊缝上
D. 每张底片黑度检查至少测量四点,取四次测量的平均值作为底片黑度值
A. 射线能量增大成像质量下降
B. 射线能量减小成像质量下降
C. 射线能量增大成像质量提高
D. 射线能量减小成像质量提高
