A、 检测结果有直接记录
B、 可以获得缺陷的真实图像
C、 面积型缺陷的检出率比体积型缺陷的检出率高
D、 适宜检验较薄的工件而不适宜较厚的工件
答案:AB
A、 检测结果有直接记录
B、 可以获得缺陷的真实图像
C、 面积型缺陷的检出率比体积型缺陷的检出率高
D、 适宜检验较薄的工件而不适宜较厚的工件
答案:AB
A. 这种方法能精确地测量裂纹或不连续性的深度
B. 这种方法能在现场检验大型零件
C. 这种方法能发现浅的表现缺陷
D. 使用不同类型的渗透材料可获得较低或较高的灵敏度
A. 焦点越大,散热越困难
B. 焦点越小,照相清晰度越好
C. 管电压、管电流增加,实际焦点会有一定程度的增大
D. 有效焦点总是小于实际焦点
A. 当缺陷尺寸小于声束截面时使用
B. 当缺陷尺寸或面积大于声束直径或截面时使用
C. 用探头移动法来测定缺陷指示长度方法有相对灵敏度测长法 、端点峰值测长法
D. 用探头移动法来测定缺陷指示长度方法有相对灵敏度测长法 、当量法
A. 纵波直探头
B. 表面直探头
C. 横拨直探头
D. 聚焦探头
A. 耦合不良
B. 存在与声束不垂直的平面缺陷
C. 耦合太好
D. 存在与始脉冲不能分开的近表面缺陷
A. ɑ粒子
B. β粒子
C. 电子
D. 射线
A. 渗透液是溶液
B. 溶剂清洗剂是悬浮液
C. 显像剂是悬浮液
D. 显像剂是乳状液
A. 在有机玻璃斜楔块中产生
B. 从晶片上直接产生
C. 在有机玻璃与耦合层界面上产生
D. 在耦合层与钢板界面上产生
A. X射线的穿透力比 射线弱
B. X射线的波长比 射线长
C. X射线与 射线的来源不同
D. 以上都对
A. 应能和被检表面形成高对比度
B. 应与被检表面颜色大致相同
C. 应能黏附在被检物表面上
D. 应不能黏附在被检物表面上