20. 下列关于漏磁场的叙述中,不正确的是( )
A. 缺陷方向与磁力线平行时,漏磁场最大
B. 漏磁场的大小与工件的材质无关
C. 漏磁场的大小与缺陷的深度比有关
D. 工件表层下缺陷所产生的漏磁场,随缺陷的埋藏深度增加而增大
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8.在频率一定和材料相同情况下,横波对小缺陷探测灵敏度高于纵波的原因是( )
A. 横波质点振动方向对缺陷反射有利
B. 横波探伤杂质少
C. 横波波长短
D. 横波指向性好
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36.干粉显像剂的粒径大小不得超过( )
A. 1~3μm
B. 3~5μm
C. 5~7μm
D. 7~9μm
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14. 以下选项中有关荧光渗透剂水洗型说法不正确的是( )
A. 乳化剂含量较低,则越易清洗,但灵敏度越低
B. 乳化剂含量较高,则越易清洗,但灵敏度越低
C. 荧光染料浓度越高,则亮度越大,但价格越贵
D. 有高、低两种不同的灵敏度
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30. 射线探伤主要采用那种射线( )
A. α射线
B. β射线
C. X射线
D. 
射线
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21.随着普通X光机的kV值增高( )
A. 射线能量增大成像质量下降
B. 射线能量减小成像质量下降
C. 射线能量增大成像质量提高
D. 射线能量减小成像质量提高
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17. 下列关于显像剂干燥的说法正确的有( )
A. 用湿式显像剂显像时,可不经干燥处理
B. 用干式或快干式显像剂显像时,可不经干燥处理
C. 用湿式显像剂显像时,溶剂去除后的被检工件表面可上直接覆盖显像剂
D. 用干式或快干式显像剂显像前,溶剂去除后的被检工件表面可自然干燥或用布、纸擦干
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23. 超声波的扩散衰减主要取决于( )
A. 波阵面的几何形状
B. 材料的晶粒度
C. 材料的粘滞性
D. 以上都是
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28. 下列选项属于焊缝缺陷的有( )
A. 裂纹和固体夹杂
B. 孔穴
C. 未熔合和未焊透
D. 形状缺陷
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15.用底波法调节锻件探伤灵敏度时,下面有关缺陷定量的叙述中哪点是错误的?( )
A. 可不考虑探伤耦合差补偿
B. 缺陷定量可采用计算法或A.V.G曲线法
C. 可不使用试块
D. 缺陷定量可不考虑材质衰减差修正
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