A、 前一个缺陷大于后一个
B、 后一个缺陷大于前一个
C、 两者一样大
D、 两者大小关系不确定
答案：B
解析：题目解析 该题目考察了用垂直法探测同一试件上两个缺陷的大小比较。在相同探测灵敏度下，通过调节衰减器使两个缺陷的回波降至屏高的50%。前一个缺陷回波至此高度时衰减器读数是10dB，后一个缺陷回波至此高度时衰减器读数是40dB。由于衰减器的读数与信号的强度有关，40dB的衰减较大，意味着后一个缺陷的信号较弱，因此后一个缺陷比前一个缺陷大。所以答案选项为B。
A、 前一个缺陷大于后一个
B、 后一个缺陷大于前一个
C、 两者一样大
D、 两者大小关系不确定
答案：B
解析：题目解析 该题目考察了用垂直法探测同一试件上两个缺陷的大小比较。在相同探测灵敏度下，通过调节衰减器使两个缺陷的回波降至屏高的50%。前一个缺陷回波至此高度时衰减器读数是10dB，后一个缺陷回波至此高度时衰减器读数是40dB。由于衰减器的读数与信号的强度有关，40dB的衰减较大，意味着后一个缺陷的信号较弱，因此后一个缺陷比前一个缺陷大。所以答案选项为B。
A. 在任何情况下都是正确的
B. 仅适用于纵波探伤
C. 仅适用于横波探伤
D. 在某些情况下不适用,例如对IIW试块的R100曲面就是
解析：在超声波探伤中,常用手指沾油摸工件表面,观察信号是否跳动,作为鉴别缺陷信号的一种方法( )。 答案: D. 在某些情况下不适用,例如对IIW试块的R100曲面就是 解析：在超声波探伤中，用手指沾油摸工件表面并观察信号是否跳动，可以用来检测表面缺陷。然而，并非在所有情况下都适用，特别是在对特殊形状的试块或曲面进行检测时，如对IIW试块的R100曲面，这种方法可能不适用，因为曲面的形状会影响信号的传播和接收，导致不准确的判断。
A. 正确
B. 错误
解析：题目解析[填写题目解析]： 答案：A 解析：该题是关于超声耦合的定义。超声耦合是指超声波在探测面与被测物之间的传播过程中的声强透射率。正确回答是A，超声耦合的确是描述超声波传播在被测物表面的情况。
A. 与前者一样
B. 比前者低
C. 比前者高
D. 比前者高且显示位置提前
解析： 题目要求比较两个缺陷的回波高度，一个缺陷表面状态粗糙，另一个缺陷表面光滑，探测时波束垂直射入。由于波束垂直射入，两个缺陷的探测灵敏度相同。表面状态粗糙的缺陷可能会使得一部分波束散射或反射导致回波减弱，而表面光滑的缺陷不会有这种问题。因此，表面光滑的缺陷的回波高度会比表面状态粗糙的缺陷回波高度高。选项C为正确答案。
A. 右
B. 左
C. 上
D. 任意
解析：线路标志沿计算里程方向设在线路( )侧。 A. 右 B. 左 C. 上 D. 任意 答案:B 题目解析：这道题中涉及到线路标志的设置方向。选项B，左侧，是正确答案。在铁路运行中，线路标志沿计算里程方向设置在左侧，这有助于确保司机能够清楚地看到标志，并根据标志作出正确的操作。
A. 介质的弹性性质
B. 介质密度
C. 泊松比
D. 上述都有
解析：题目解析 超声波声速主要是由( )决定。 答案：D 解析：超声波的传播速度主要由介质的弹性性质、介质密度和泊松比共同决定。介质的弹性性质决定了声波在介质中传播的速度，而介质密度和泊松比也会对声速产生一定的影响。因此，选项D“上述都有”是正确答案。
A. C型显示
B. A型显示
C. X轴图表记录
D. 带状图表记录
解析：以平面视图显示或描记缺陷的显示方式，称为A型显示。选择A作为答案，因为题干明确说明"A型显示"是这种显示方式。
A. 通电磁化法
B. 通磁磁化法
C. 触头磁化法
D. 上述都对
解析：题目解析 磁粉探伤对工件磁化的方法可以采用通电磁化法、通磁磁化法和触头磁化法。选项D：“上述都对”是正确的答案，因为这三种方法都是用来磁化工件以进行磁粉探伤。
