A、绝缘电阻和吸收比测量
B、直流泄漏电流测量
C、绝缘介质损耗角正切值测量
D、工频耐压试验
答案：ABC
A、绝缘电阻和吸收比测量
B、直流泄漏电流测量
C、绝缘介质损耗角正切值测量
D、工频耐压试验
答案：ABC
A. 由于绝缘体内部或表面存在气隙（泡）而导致气隙（泡）内的放电
B. 绝缘体中若有导电杂质存在，则在此杂质边缘由于电场集中，也会出现局部放电
C. 在高电压端头上，如电缆的端头等部位，由于电场集中，而且沿面放电的场强比较低，往往就沿着介质与空气的交界面上产生表面局部放电
D. 绝缘结构形式
A. 正序
B. 负序
C. 零序
D. 正序、负序、零序三组
A. W型半导体
B. U型半导体
C. P型半导体
D. N型半导体
A. 正确
B. 错误
A. 声测法
B. 红外测温法
C. 跨步电压法
D. 行波测距法
A. 雷电冲击试验
B. 操作冲击试验
C. 短时工频试验
D. 特殊情况下的长时间工频试验
A. 低压脉冲法
B. 直闪法
C. 冲闪法
D. 电桥法
A. 电容电流
B. 吸收电流
C. 传导电流
D. 试验电流
A. 420
B. 840
C. 210
D. 1000
A. 正确
B. 错误
