A、绘制振幅-当量曲线
B、测定各种探头声束宽度
C、测定直探头声束偏移量
D、测量探伤仪衰减器精度
E、当量法确定被检工件内缺陷大小
答案：ACDE
A、绘制振幅-当量曲线
B、测定各种探头声束宽度
C、测定直探头声束偏移量
D、测量探伤仪衰减器精度
E、当量法确定被检工件内缺陷大小
答案：ACDE
A. 灵敏度的修正
B. 轨面状态的影响
C. 回波的识别
D. 回波幅度的识别
E. 探头移动方向的选择
A. 对
B. 错
解析：测定核伤远点波时，应将衰减器恢复到修正前的校对灵敏度。
A. 正切
B. 余切
C. 正弦
D. 余弦
A. 大于
B. 小于
C. 大于或等于
D. 小于或等于
A. 对
B. 错
解析：超声波从一种介质进入另一种介质后其声束与界面波线所形成的夹角称为折射角。
A. 检验成本高
B. 对形状复杂试件及表面较深部位的缺陷检测有困难
C. 检测结果不直观
D. 只限于导电材料
E. 判断缺陷性质、大小及形状尚难
A. 横向裂纹
B. 纵向裂纹
C. 水平裂纹
D. 垂直裂纹
A. 对
B. 错
A. 对
B. 错
解析：双探头法中V形串列扫查主要是用来发现与检测面平行的面积状缺陷。
A. 水平线性
B. 垂直线性
C. 动态范围
D. 调整纵波探测范围
E. 校对时基线
