表征压电晶片材料接收性能的是压电应变常数。

缺陷回波高度法在确定的探测条件下，缺陷尺寸愈大，反射声压愈（ ），缺陷回波愈高。

探头晶片尺寸大时，近场的覆盖范围（ ）。

标准试块是指材质，形状，尺寸及表面状态等均由 （ ）讨论通过的试块。

同步脉冲的产生频率即为仪器的（ ）。

波长λ，声速C，频率f和周期T之间的关系为 （ ）。

两列振幅相同的相干波在同一直线上沿相反方向彼此相向传播时叠加而成的波称为（ ）。

在超声波检测中，最常使用的频率范围为（ ）。

谐振动时一种周期性振动，其振动量每隔一固定的时间T就完成重复一次，时间T称为周期运动的周期，而每秒钟所完成的周期数即称为（ ）。

动态范围
使用直探头和（ ）型标准试块。

分辨力测试
直探头
使用直探头和CSK-ⅠA型标准试块。
测试方法：将探头置于CSK-ⅠA型标准试块上，调节仪器，探伤仪的抑制置于“0”或“断”。探测声程（ ）反射面的反射波A、B，移动探头使两波等高并达到满幅的20%～30%，如图F13-5中h1，调节增益或衰减器，使A、B两波峰间的波谷h2上升到原来的波峰高度h1，此时增益或衰减器所释放的dB数则为该探头的分辨力R。