晶片较小的探头远场覆盖面积较大。

A. ⑴微机检测

B. ⑵自动检测

C. ⑶超声波检测

D. ⑷磁粉检测

A. ①瑞利波

B. ②兰姆波

C. ③爬波

D. ④纵波

A. ①超声波探伤

B. ②磁粉探伤

C. ③疲劳裂纹

D. ④透声不良

A. ⑴10Hz-20kHz

B. ⑵20Hz-20kHz

C. ⑶10Hz-20Hz

D. ⑷10Hz-30Hz

A. ①N≈D/4λ

B. ②N≈D²/4λ

C. ③N≈A/4λ

D. ④N≈A²/4λ

A. ①超声场

B. ②绕射区

C. ③无声区

D. ④远场

A. 正确

B. 错误

A. ①介质密度x声速

B. ②介质密度x频率

C. ③声速x波长

D. ④频率x波长