材料晶粒尺寸增大，对超声波探伤的主要影响是（ ）。

声阻抗等于介质密度（ρ）与声速（C）的乘积。

静压为没有声波时媒介质中的压力。

对于表面粗糙的缺陷，当声波垂直入射时，声波会被乱反射，使缺陷波波高有所下降。

声波垂直缺陷表面时缺陷回波最低。

在液浸检测中，通过液体层实现耦合，这时的液体不算耦合剂。

每班开工前，不需对每个要使用的横波探头或小角度纵波探头进行探伤灵敏度的校验或确认。

对于球凸界面，则声束反射后将是聚焦的。

对于球凹界面，反射后将是发散的。

检测面粗糙时，信噪比会降低，在这些情况下，应选择高频率。

横波声波到达试件端角时，在荧光屏上可出现端角波。