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盲区的大小随着近场区的增大而增大。
仪器放大器的增益愈大,表示探伤灵敏度愈高。
垂直大探伤所定的缺陷深度也就是缺陷的声程。
对于面积大于声束截面或长度大于声束截面直径的缺陷可用F/Bf法
当试件上下面与入射声束垂直且缺陷反射面小于入射声束截面时,可用地面回波高度法
重复频率的提高有助于扫查速度的提高
在声程大于3N的远场,大平底的反射声压与声程的平方成反比。
近场区长度在频率给定时随晶片直径的变小而变小。
在1s内通过一定点的完整波形的个数叫做波长。
超声波波束的指向角,在晶片直径给定时,频率愈高,指向角愈小。
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