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单选题
3.2.624瓷绝缘子的机电破坏负荷试验应( )进行一次。【DL/T626-2015】
单选题
3.2.623瓷绝缘子在年化劣化率0.005%~0.01%时,对应的检测周期为( )。【DL/T626-2015]
单选题
3.2.622在进行干工频耐压试验时,对于额定机电破坏负荷为70kN~550kN的瓷绝缘子施加( )。【DL/T626-2015】
单选题
3.2.621瓷绝缘子在适当延长检测周期时,最长不能超过( )【DL/T626-2015】
单选题
3.2.620瓷绝缘子投运( )应普测一次,并根据所测劣化率和运行经验适当延长检测周期。【DL/T626-2015】
单选题
3.2.619正常运行时测量绝缘子串的电压分布,当被测绝缘子电压值低于( )标准规定值,判为劣化绝缘子。【DL/T626-2015】
单选题
3.2.618在进行绝缘子抽样进行干工频耐压试验时,当击穿率( )时,应加倍抽样进行试验。【DL/T626-2015】
单选题
3.2.617在300kN的绝缘子应该抽取( )的产品进行干工频耐压试验。【DL/T626-2015】
单选题
3.2.616绝缘子在机械强度等级在( )时,需在安装前逐只进行干工频耐压试验。[DL/T626-2015]
单选题
3.2.615瓷绝缘子机械强度试验每( )一次。【DL/T626-2015】
