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1.1.693相同型式绝缘子带电所测等值盐密值与非带电所测等值盐密值之比称为带电积污系数。( )。【GB/T26218.1-2010】
1.1.692现场污秽度等级从很轻到很重,划分为∶ABCDE五个等级。( )。【GB/T26218.1-2010]
1.1.691绝缘子的污秽性能是由环境影响,与绝缘子间的复杂、动态的相互作用没有关系。( )。【GB/T26218.1-2010】
1.1.690溶解在给定的去离子水中时与从绝缘子一个给定表面清洗下的自然沉积物有相同体积电导率的氯化钠的量除以该表面的面积称为等值盐密。( )。【GB/T26218.1-2010】
1.1.689在绝缘子一个给定表面上为进行人工污秽试验而人工沉积的污秽物中的NAC1量除以该表面的面积称为盐密。( )。【GB/T26218.1-2010】
1.1.688统一爬电比距一般以mm/kV为单位来表达,且通常表示为最大值。( )。【GB/T26218.1-2010]
1.1.687按GB/T4585盐雾试验的盐度,一般以kG/m3表示该盐度能够在相同电压下,在相同绝缘子上产生与自然污秽可比较的泄漏电流峰值,称为现场等值盐密(SES)。( )。[GB/T26218.1-2010]
1.1.686从绝缘子一个给定表面上清洗下的不溶残留物的量除以该表面的面积称为灰密。( )。【GB/T26218.1-2010】
1.1.685绝缘子外形参数是指对污秽性能有影响的一组几何参数。( )。【GB/T26218.1-2010]
1.1.684绝缘子绝缘件部分地覆盖有高电阻层,如半导电釉,那么这样的部分应考虑作为有效的绝缘表面并且其中的距离应包括在爬电距离内。( )。【GB/T26218.1-2010】
