8、当绝缘内的缺陷不是整体分布性的,而是集中在某一小点,介质损耗正切值tanδ对这类局部缺陷的反应()。

174、测量试品的绝缘电阻时,试品温度宜在10-400C之间。

173、测量试品的绝缘电阻时,如空气湿度较大,应在出线瓷套上装设屏蔽环接到绝缘电阻表的“G”端子。

172、测量电气设备介质损耗角正切值tanδ时,消除电场干扰影响的方法有屏蔽法、选相倒相法、移相法及干扰平衡法等。

171、测量电气设备介质损耗角正切值tanδ时,防止外界磁场干扰的主要措施是将测量仪器尽量远离干扰源。

170、测量100-500V的电气设备绝缘电阻,应选用电压等级为500V、量程为100MΩ及以上的绝缘电阻表。

169、采用直流压降法进行直流电阻测试,如电路连接时采用被测电阻与电流表串联后再与电压表并联,则该方法适用于测量大电阻。

168、采用直流压降法进行直流电阻测试,电流表及电压表的内阻对测量结果有影响。

167、采用移相法测量电气设备介质损耗角正切值tanδ时,被试品的实际电容值等于正、反电源两次测量值的平均值。

166、采用西林电桥测量介质损耗角正切值时,通过调节可调电阻R和可变电容C使检流计指零,电桥平衡,这时可变电容C指示的电容量(取μF)值就是被试设备的tanδ值。

165、采用单臂电桥进行直流电阻测试,不能消除测试时连接线和接线柱接触电阻对测量结果的影响。