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民航安全检查员四级-中级工题库
1,114
多选题

175.以下对X射线图像识别中特征分析法描述不正确的是( )

A
 抓住某个物体的结构中的一些特征进行判断
B
 抓住某个物体的结构特征来推断其它同类物品
C
 充分利用功能键的分析功能对图像进行综合分析比较
D
 主要针对箱包结构不对称的点状物或线状物进行分析比较,发现可疑物

答案解析

正确答案:BCD

解析:

选项A描述的是特征分析法的正确应用,即通过识别物体结构中的特定特征来进行判断,这是特征分析法的基本原理。

选项B不正确,因为特征分析法是基于具体物品的特定结构特征来判断的,而不是用某个物体的结构特征来推断其他同类物品。每个物品的X射线图像都可能有所不同,不能简单类推。

选项C不正确,因为特征分析法主要依赖于检查员对物品结构特征的识别能力,而不是依赖机器的功能键分析功能。虽然功能键可以帮助分析,但并不是特征分析法的核心。

选项D不正确,因为特征分析法并不仅限于分析箱包结构不对称的点状物或线状物。它是一种更广泛的方法,可以应用于各种不同的物品和结构特征,包括对称和不对称的物体。

因此,选项B、C和D都是对特征分析法描述的不正确之处,所以正确答案是BCD。

相关知识点:

X射线图像特征分析法易错点

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