111.声程大于3N时,声程增加一倍,横通孔的反射声压为原来的。( )

A. 轴向检验;

B. 径向检验;

C. a与b两种检验都用;

D. 低频和高频检验。

A. 近场长度

B. 始脉冲宽度

C. 压电晶片尺寸

D. 以上都是

A. 1.5mm

B. 0.05mm

C. 0.8mm

D. 随晶片直径变化

A. 传播至探测面的一点

B. 发射的起始点

C. 透入试件起始点

D. 以上都不对

E.

F.

G.

H.

I.

J.

A. 6dB

B. 12 dB

C. 18 dB

D. 24 dB

A. 10mm

B. 4mm

C. 一个波长

D. 四倍波长

A. 缺陷大小

B. 缺陷取向

C. 缺陷类型

D. 上述三种都包括

A. 会聚

B. 发散

C. 方向不变

D. 不一定

A. 轮廓的反射

B. 侧壁效应

C. 表面状态

D. 上述都是

A. 主声束扫描不到的区域

B. 近场区内的距离

C. 非扩散区的长度

D. 被始脉冲宽度所覆盖的距离