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超声波探伤(选择题)
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超声波探伤(选择题)
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30.探测钢轨焊缝中垂直于踏面的平面状缺陷最适用的方法是( )

A、 直探头法

B、 聚焦探头法

C、 单斜探头法

D、 串列双斜探头法

答案:D

超声波探伤(选择题)
148.下面关于61°反射波的说法,是错误的?( )
https://www.shititong.cn/cha-kan/shiti/0003b108-2b8e-0864-c003-ea175b68ff00.html
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60.与表面光滑的零件相比,检验表面粗糙零件时一般应采用:()
https://www.shititong.cn/cha-kan/shiti/0003b108-2b8c-cae7-c003-ea175b68ff00.html
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65. 声速主要取决于材料的:( )
https://www.shititong.cn/cha-kan/shiti/0003b108-2b8c-db57-c003-ea175b68ff00.html
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94.表面波探伤时,沾在工件表面的油污、积垢会引起( )
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29.超声波垂直入射到两种介质的界面上,如果两种介质的声阻抗差别很大,则声压反射率:( )
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127.焊接电流过小或焊接速度过快可能引起。( )
https://www.shititong.cn/cha-kan/shiti/0003b108-2b8d-c2ca-c003-ea175b68ff00.html
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147.方形锻件垂直法探伤时,荧光屏上出现一游动缺陷回波,其波幅较低但底波降低很大,该缺陷取向可能是( )
https://www.shititong.cn/cha-kan/shiti/0003b108-2b8e-0543-c003-ea175b68ff00.html
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42.兰姆波可以用于检验:( )
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130.被检工件晶粒粗大,通常会引起。( )
https://www.shititong.cn/cha-kan/shiti/0003b108-2b8d-ccb7-c003-ea175b68ff00.html
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10.与表面光滑的零件相比,检验表面粗糙的零件时一般应采用( )
https://www.shititong.cn/cha-kan/shiti/0003b108-2b8c-19d8-c003-ea175b68ff00.html
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超声波探伤(选择题)
题目内容
(
单选题
)
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超声波探伤(选择题)

30.探测钢轨焊缝中垂直于踏面的平面状缺陷最适用的方法是( )

A、 直探头法

B、 聚焦探头法

C、 单斜探头法

D、 串列双斜探头法

答案:D

超声波探伤(选择题)
相关题目
148.下面关于61°反射波的说法,是错误的?( )

A. 产生61°反射时,纵波入射角与横波反射角之和为90°

B. 产生61°反射时,纵波入射角为61°,横波反射角为29°

C. 产生61°反射时,横波入射角为29°,纵波反射角为61°

D. 产生61°反射时,其声程是恒定的

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60.与表面光滑的零件相比,检验表面粗糙零件时一般应采用:()

A. 较低频率探头和较粘的耦合剂

B. 较高频率的探头和较粘的耦合剂

C. 较低频率探头和粘度较小的耦合剂

D. 较高频率的探头和粘度较小的耦合剂

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65. 声速主要取决于材料的:( )

A. 密度

B. 弹性

C. a和b都是

D. 声阻抗。

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94.表面波探伤时,沾在工件表面的油污、积垢会引起( )

A. 阻挡所有声波的传播

B. 使声波衰减

C. 对探伤没有影响

D. 使声波衰减并在示波屏上显现相应的信号

https://www.shititong.cn/cha-kan/shiti/0003b108-2b8d-3e5e-c003-ea175b68ff00.html
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29.超声波垂直入射到两种介质的界面上,如果两种介质的声阻抗差别很大,则声压反射率:( )

A. 很大;

B. 很小;

C. 与两种介质有关。

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127.焊接电流过小或焊接速度过快可能引起。( )

A. 裂纹

B. 未焊透

C. 咬边

D. 焊瘤

https://www.shititong.cn/cha-kan/shiti/0003b108-2b8d-c2ca-c003-ea175b68ff00.html
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147.方形锻件垂直法探伤时,荧光屏上出现一游动缺陷回波,其波幅较低但底波降低很大,该缺陷取向可能是( )

A. 平行且靠近探测面

B. 与声束方向平行

C. 与探测面成较大角度

D. 平行且靠近底面

https://www.shititong.cn/cha-kan/shiti/0003b108-2b8e-0543-c003-ea175b68ff00.html
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42.兰姆波可以用于检验:( )

A. 锻件;

B. 棒坯;

C. 铸锭;

D. 簿板

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130.被检工件晶粒粗大,通常会引起。( )

A. 草状回波增多

B. 穿透能力减小

C. 底波反射次数减少幅度降低或消失

D. 以上诸点

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10.与表面光滑的零件相比,检验表面粗糙的零件时一般应采用( )

A. 较低频率探头和较粘的耦合剂

B. 较低频率探头和粘度较小的耦合剂

C. 较高频率探头和较粘的耦合剂

D. 较高频率探头和粘度较小的耦合剂

https://www.shititong.cn/cha-kan/shiti/0003b108-2b8c-19d8-c003-ea175b68ff00.html
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