测定低硅的方法为（）。

紫外分光光度计

硅表

红外

正确答案：B

解析：

题目解析这道题考察测定低硅含量的方法。硅表（Silicon Wafer）是一种用于电子器件制造的基底材料，通常纯度要求较高。测定硅含量可以通过硅表的分析来实现。因此，正确答案是B. 硅表。紫外分光光度计和红外分析仪通常用于分析物质的化学成分，与硅含量测定不直接相关。

题目纠错

化学检验员理论考试

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下列关于平行测定结果准确度与精密度的描述正确的有。

一个样品分析结果的准确度不好，但精密度好，可能存在。

制备的标准溶液浓度与规定浓度相对误差不得大于。

某人根据置信度为95%对某项分析结果计算后，写出如下报告，合理的是。

在同样的条件下，用标样代替试样进行的平行测定叫做。

可以在烘箱中进行烘干的玻璃仪器是。

有关电器设备防护知识不正确的是。

双指示剂法测混合碱，加入酚酞指示剂时，消耗HCl标准滴定溶液体积为15.20mL；加入甲基橙作指示剂，继续滴定又消耗了HCl标准溶液25.72mL，那么溶液中存在。

酸碱滴定曲线直接描述的内容是。

以浓度为0.1000mol/L的氢氧化钠溶液滴定20mL浓度为0.1000mol/L的盐酸，理论终点后，氢氧化钠过量0.02mL，此时溶液的pH值为。

测定低硅的方法为（ ）。