4.20磁粉检测时一般应选用A1-30/100型标准试片。当检测焊缝坡口等狭小部位,由于尺寸关系,A1型标准试片使用不便时,一般可选用D型标准试片。( )

**解析：** 该题说法**错误**。 **详细分析如下：** 1. **关于A1型试片的使用：** 前半句“磁粉检测时一般应选用A1-30/100型标准试片”是符合常规做法的。A1型试片（人工缺陷试片）主要用于检验磁粉检测设备、磁粉和综合性能，以及确定被检工件表面的有效磁场强度和方向。A1-30/100是常用的灵敏度等级。 2. **关于狭小部位试片的选择（关键错误点）：** 后半句提到“当检测焊缝坡口等狭小部位……一般可选用D型标准试片”，这是错误的。 * **D型试片**通常指的是**直流磁场指示器**或特定形状的标准试块，但在国内磁粉检测标准（如 NB/T 47013.4 或 GB/T 15822）的语境下，针对**狭小部位**或**形状复杂部位**，为了验证磁场方向和灵敏度，通常推荐使用 **C型** 或 **E型** 标准试片，或者是**小型化的A1型试片**（如果空间允许粘贴）。 * 更准确地说，在焊缝坡口等狭小、不规则部位，A1型试片因为需要平整表面粘贴且尺寸相对较大，确实使用不便。此时，工程中常选用 **C型标准试片**（十字形试片）或者 **DPA-1型** 等专用小尺寸试片，甚至有些标准提及使用 **B型** 试片（取决于具体标准版本和定义，但绝非通用的“D型”作为首选替代）。 * 在许多教材和规范中，明确指出：对于焊缝坡口等狭小部位，由于A1型试片尺寸较大且要求表面平整，使用不便时，可选用 **C型** 标准试片。C型试片体积小，可以适应较小的检测区域。 **结论：** 将“D型标准试片”作为焊缝坡口等狭小部位的通用替代选择是不准确的，通常应选用 **C型标准试片**。因此，原题表述错误。