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单选题
试件内部的、光滑的、片状的与探测面垂直的缺陷，能有效发现缺陷的探伤方法是（ ）。
A
串列式探伤
B
斜探头探伤
C
小角度探伤
答案解析
正确答案：A
解析：
题目解析
试件内部的、光滑的、片状的与探测面垂直的缺陷，能有效发现缺陷的探伤方法是（ ）。 A.串列式探伤 B.斜探头探伤 C.小角度探伤 答案:A
解析：能有效发现试件内部光滑、片状且与探测面垂直的缺陷的探伤方法是串列式探伤。串列式探伤是一种通过使用多个探头按照一定的排列方式进行探伤的方法，可以有效地探测出位于试件内部的垂直缺陷。斜探头探伤和小角度探伤更适用于检测其他类型的缺陷，如表面缺陷或斜向缺陷。
相关知识点：
串列式探伤查垂直片状缺陷
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