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单选题
1.1.363 超声波探伤的英文缩写为RT, 射线探伤的英文缩写为UT 。( )
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1.1.362 荧光磁粉探伤法只能在光线暗的地方进行。( )
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1.1.361 渗透探伤技术能检测表面开口、闭口的缺陷。( )
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1.1.360 渗透探伤不适用于表面多孔性材料。( )
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1.1.359 磁粉探伤适用于任何材料。( )
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1.1.358 射线探伤技术几乎适用于所有的材料零部件。( )
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1.1.356 非记录性超声波检测仪器对缺陷检测的定性和定量都比TOFD 技术强。( )
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1.1.354 渗透检测适用于近表面未开口的缺陷检测。( )
