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判断题
题目20.桩头下浅部有缺陷时，用低频激振的方法较易判断。()
A
正确
B
错误
答案解析
正确答案：B
解析：
这是一道关于无损检测技术应用的判断题。我们来一起分析一下题干和答案：
**题干分析**：
题目提到“桩头下浅部有缺陷时，用低频激振的方法较易判断”。这里涉及到的是桩基检测中的一个具体问题，即如何有效检测桩头下浅部的缺陷。
**关键概念**：
1. **桩头下浅部缺陷**：指的是桩基头部以下较浅位置的结构缺陷。
2. **低频激振**：一种通过施加低频振动来检测材料内部缺陷的方法。
**选项分析**：
* **A选项（正确）**：如果选择A，意味着低频激振方法确实适合检测桩头下浅部的缺陷。但实际上，低频激振方法更适合检测深层缺陷，因为其波长较长，能够穿透较深的材料层。
* **B选项（错误）**：选择B则表示低频激振方法不适合或不易判断桩头下浅部的缺陷。这更符合实际情况，因为低频激振的波长较长，对于浅部缺陷的分辨率较低，而高频激振由于波长较短，更适合检测浅部缺陷。
**总结**：
低频激振方法由于其波长较长，更适合检测深层缺陷，而对于桩头下浅部的缺陷，高频激振方法由于波长较短，能够提供更高的分辨率，从而更容易检测到浅部缺陷。因此，题干中的说法是错误的。
**答案**：B（错误）
相关知识点：
桩头浅部有缺陷，低频激振难判断
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