根据《磁性基体上非磁性覆盖层覆盖层厚度测量磁性法》GB/T4956，测量磁性基体金属上非磁性覆盖层厚度时，该规范仅适用于适当平整的试样上的测量。

非常好，让我们一起来深入探讨这个知识点。首先，我们要理解题干中提到的《磁性基体上非磁性覆盖层覆盖层厚度测量磁性法》GB/T4956这个标准。
这个标准是关于如何测量磁性基体上的非磁性覆盖层厚度的方法。题干中的说法是：“该规范仅适用于适当平整的试样上的测量。”你的答案是A，即正确。
解释如下：
1. **标准适用性**：GB/T4956确实是一个针对磁性基体上非磁性覆盖层厚度测量的标准。这意味着，只要涉及到这类测量，这个标准就可以被引用。
2. **试样平整度**：标准中提到“适当平整的试样”，这是因为非磁性覆盖层的厚度测量通常需要较高的精度。如果试样表面不平整，可能会影响测量的准确性。因此，标准强调试样需要平整，以确保测量的可靠性。
3. **联想与例子**：想象一下，如果你在测量一张纸的厚度，纸张表面如果有很多折痕，那么用尺子直接测量可能会得到不准确的结果。同样的道理，在GB/T4956中提到的测量方法，要求试样平整，就是为了确保测量结果的准确性。
4. **生动有趣的例子**：假设你是一位珠宝设计师，需要测量一枚戒指上镀金的厚度。如果戒指表面不平整，直接测量可能会因为凹凸不平的部分而导致测量结果不准确。使用GB/T4956标准，并确保戒指表面平整，就可以得到更准确的镀金厚度测量结果。
综上所述，题干中的说法是正确的，因为GB/T4956确实要求在适当平整的试样上进行非磁性覆盖层厚度的测量。这样的要求是为了保证测量结果的精确性和可靠性。