CSK-ⅠA试块上φ50、φ44、φ40三孔的台阶，可用来测定斜探头的分辨力。

**解析：** 该说法是**正确**的。 **详细分析如下：** 1. **CSK-ⅠA试块的结构特点**： CSK-ⅠA试块是超声波探伤中常用的标准试块（依据JB/T 4730等标准）。在其一侧通常设有三个不同直径的横孔或台阶结构，常见的组合包括 $\phi 50$、$\phi 44$、$\phi 40$ 的圆弧面或阶梯孔。这些结构具有不同的曲率半径和反射特性。 2. **分辨力的定义与测定原理**： * **斜探头分辨力**是指探头区分两个相邻缺陷的能力。 * 在CSK-ⅠA试块上，利用 $\phi 50$、$\phi 44$、$\phi 40$ 这三个台阶（或圆弧面），可以通过观察荧光屏上来自不同反射体的回波是否分离来测定分辨力。 * 具体操作时，通常将探头对准这些台阶，调整仪器增益，观察来自相邻两个台阶（如 $\phi 50$ 和 $\phi 44$，或 $\phi 44$ 和 $\phi 40$）的回波。如果两个回波在屏幕上能够清晰分开，且波谷高度低于一定比例（例如低于峰值的特定dB数），则说明探头具有良好的分辨力。 3. **其他用途对比**： * 虽然这些孔/台阶也常用于测定斜探头的**入射点**、**折射角（K值）**以及**前沿距离**，但它们确实也是测定**分辨力**的标准反射体之一。特别是通过比较不同深度或不同位置反射体的回波分离情况，可以评估探头的纵向或横向分辨能力。 **结论：** CSK-ⅠA试块上的 $\phi 50$、$\phi 44$、$\phi 40$ 三孔台阶结构，既可以用于校准斜探头的角度和入射点，也可以用来测定斜探头的分辨力。因此，题目表述正确。